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2013-05-23 12:21
求翻译： Electrostatic force microscopy (EFM) measurements were performed using the EFM mode of the AFM (MultiMode, Nanoscope IV from Veeco). The samples were scanned using an Antimony doped Si cantilever tip coated with a thin Cr layer. Topographical measurements and electrical data were obtained by the two-pass Lift Mode t是什么意思？ 待解决
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Electrostatic force microscopy (EFM) measurements were performed using the EFM mode of the AFM (MultiMode, Nanoscope IV from Veeco). The samples were scanned using an Antimony doped Si cantilever tip coated with a thin Cr layer. Topographical measurements and electrical data were obtained by the two-pass Lift Mode t
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
静电力显微镜（ EFM ）测量是使用原子力显微镜（多模式，奈米级四从Veeco公司）的EFM方式进行。
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2013-05-23 12:23:18
静电力显微学(EFM)测量进行了使用AFM的EFM方式(多重状态，从Veeco的Nanoscope IV)。样品被扫描了使用用稀薄的哥斯达黎加层数涂的锑被掺杂的Si悬臂式技巧。地形学测量和电子数据由二路式的推力方式技术得到。在这个方法，在第一张通行证期间，技巧在轻拍的方式下经营扫描一条地形学线和得到高度图象。
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2013-05-23 12:24:58
静电力显微学 (EFM) 测量使用AFM进行了多重状态， Nanoscope IV的 (EFM方式从Veeco)。 样品使用用稀薄的哥斯达黎加层数涂的锑被掺杂的Si悬臂式技巧被扫描了。 地形学测量和电子数据由two-pass推力方式技术得到。 在这个方法，在初次通过期间，技巧在轻拍的方式下经营扫描一条地形学线和得到高度图象。 在第二扫瞄，悬臂式被举到一个被预定义的距离10-100毫微米为了使搬运车der Waals力量减到最小的作用。 在这种推力期间，悬臂式是偏心的 (12 V DC) 并且查出在电子力量梯度上的变化同一条线，当排除表面地势的影响时。
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2013-05-23 12:26:38
静电力显微镜 （EFM） 测量是使用 EFM 模式的原子力显微镜 Nanoscope IV 从美国维易科精密多模） 执行的。样品被扫描使用掺锑硅悬臂提示涂有一层薄薄的铬。地形测量和电气数据获得的两次通过电梯模式技术。在这种方法，在第一阶段，提示以攻模式运行扫描地形线并获取高度的图像。在第二次扫描，悬臂以便减低的范德华力作用提升为可以为一个预定义的距离 10 — — 100 毫微米。在这电梯，悬臂是有偏见 (12 V DC） 和检测的电气变化迫使梯度在同一线路同时排除了表面形貌的影响。
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2013-05-23 12:28:18
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