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2013-05-23 12:21
求翻译：Films deposited on silicon substrates have been character-ized very comprehensively by a variety of methods with respect to their morphology and structure, composition, crystallinity, and bonding environment. The results of this study have been discussed in [17,18]. The samples of the present investiga-tion were analys是什么意思？ 待解决
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Films deposited on silicon substrates have been character-ized very comprehensively by a variety of methods with respect to their morphology and structure, composition, crystallinity, and bonding environment. The results of this study have been discussed in [17,18]. The samples of the present investiga-tion were analys
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
薄膜硅衬底上沉积已被性格化的多种方法非常全面尊重他们的形态和结构，组成，结晶度和粘合环境。这项研究的结果进行了讨论，在[17,18]。目前investiga的样品进行了分析，通过扫描电子显微镜（SEM，形态和结构），X射线衍射（XRD，晶体性），拉曼光谱（粘结环境），X射线光电子能谱（XPS组成和粘接环境）。选定样本由压痕，nanotribo测试，和划痕试验[13]。
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2013-05-23 12:23:18
已沉积在硅衬底上字符的十分全面的组织的各种方法对其形态和结构、组成、结晶度、和粘接环境。 这项研究的结果进行了讨论,[17,18]。
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2013-05-23 12:24:58
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2013-05-23 12:26:38
硅衬底上沉积薄膜一直字符化非常全面的各种形态和结构、 组成、 结晶度、 和粘结环境的方法。[17,18] 中讨论了这项研究的结果。目前的调查情况研究的样本分析都是通过扫描电子显微镜 （SEM、 形态和结构）、 x 射线衍射 (晶状体蛋白的碳黑 XRD)、 拉曼光谱 (粘接环境） 和 x 射线光电子能谱 （XPS、 组成和粘结环境）。抽取的样
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2013-05-23 12:28:18
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