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  • 匿名
关注:1 2013-05-23 12:21

求翻译:it is due to electron trapping in defects between the silicon and silica是什么意思?

待解决 悬赏分:1 - 离问题结束还有
it is due to electron trapping in defects between the silicon and silica
问题补充:

  • 匿名
2013-05-23 12:21:38
在硅和二氧化硅之间的缺陷,这是由于电子俘获
  • 匿名
2013-05-23 12:23:18
这是由于电子俘获的芯片之间的缺陷和硅
  • 匿名
2013-05-23 12:24:58
它归结于电子诱捕在瑕疵在硅和硅土之间
  • 匿名
2013-05-23 12:26:38
这是由于中缺陷之间的硅和硅的电子俘获
  • 匿名
2013-05-23 12:28:18
它在硅和硅石之间的缺陷中由于围困的电子
 
 
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