求翻译：improvement in the defect levels introduced during the wafer fabrication process, which impact both functional test yield and product reliability.是什么意思？

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improvement in the defect levels introduced during the wafer fabrication process, which impact both functional test yield and product reliability.

问题补充：

匿名	2013-05-23 12:21:38 在晶圆制造过程中引入了缺陷水平的改善，从而影响功能的测试产量和产品的可靠性。

匿名	2013-05-23 12:23:18 在改善各级的欠妥之处介绍了在晶圆制造过程中,这两个功能测试影响产量和产品的可靠性。

匿名	2013-05-23 12:24:58 改善在薄酥饼制造过程期间被介绍的瑕疵水平，冲击功能测试出产量和产品可靠性。

匿名	2013-05-23 12:26:38 缺陷程度在晶圆制造过程中，介绍了影响这两个功能测试产量和产品可靠性的提高。

匿名	2013-05-23 12:28:18 改进在缺陷水平内在维夫饼干制造过程期间介绍，性能试验产生影响和产品可靠性。

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