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2013-05-23 12:21
求翻译：From above analysis, the device showed good electrical function, but failed in isolation test which caused by flash inside the retract pin holes, and thru internal analysis this type of flash was caused by worn out retract pin and bush.是什么意思？ 待解决
 悬赏分：1
- 离问题结束还有
From above analysis, the device showed good electrical function, but failed in isolation test which caused by flash inside the retract pin holes, and thru internal analysis this type of flash was caused by worn out retract pin and bush.
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
从上面的分析，设备显示良好的电功能，但失败造成的退刀销孔内, flash 分离试验中，通过内部分析这种类型的 flash 由造成穿破了退针和布什。
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2013-05-23 12:23:18
从以上的分析,该设备显示良好电气功能,但没有在隔离测试所造成的,Flash在收回pin洞、THRU内部分析这种类型的闪存是因磨损收回脚和布什。
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2013-05-23 12:24:58
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2013-05-23 12:26:38
从上面的分析，设备显示良好的电功能，但失败造成的退刀销孔内, flash 分离试验中，通过内部分析这种类型的 flash 由造成穿破了退针和布什。
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2013-05-23 12:28:18
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