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2013-05-23 12:21
求翻译：The study also determined that although the sapphire material in this study had a wide range of Etch Pit Density (EPD) results, EPD measurements were found to have a low correlation to overall wafering performance. In fact, the study concluded that the material with the lowest EPD count, performed poorly during slicin是什么意思？ 待解决
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The study also determined that although the sapphire material in this study had a wide range of Etch Pit Density (EPD) results, EPD measurements were found to have a low correlation to overall wafering performance. In fact, the study concluded that the material with the lowest EPD count, performed poorly during slicin
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
这项研究还确定，虽然在这项研究中的蓝宝石材料有广泛的腐蚀坑密度（环保署）的结果，环保署测量发现有一个关联度低，整体晶圆性能。事实上，该研究得出结论，环保署计数最低的材料，期间表现不佳，切片和拒绝晶圆比例最大。
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2013-05-23 12:23:18
这项研究还确定,虽然该蓝宝石材料在这项研究有广泛的蚀刻坑密度(环保署)结果,环保署测量有低,总体wafering表现。 事实上,这项研究的结论是,物质与环保署的最低数,表现差劣的期间已切片和拒绝晶片比率最大。
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2013-05-23 12:24:58
也被确定的研究，虽然青玉材料在这项研究中有大范围腐蚀坑密度(EPD)结果， EPD测量被发现有一种低交互作用到整体wafering的表现。 实际上，研究认为，材料以最低的EPD计数，不足执行在切期间并且有最大的被拒绝的薄酥饼比率。
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2013-05-23 12:26:38
该研究还确定虽然在这项研究的蓝宝石材料广泛范围的刻蚀坑密度 （环保署） 的结果，环保署测量发现有 wafering 的整体性能，低相关。事实上，研究的结论最低环保署罪名的材料分层表现不佳，有最大拒绝的晶片比。
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2013-05-23 12:28:18
该研究还确定虽然在这项研究的蓝宝石材料广泛范围的刻蚀坑密度 （环保署） 的结果，环保署测量发现有 wafering 的整体性能，低相关。事实上，研究的结论最低环保署罪名的材料分层表现不佳，有最大拒绝的晶片比。
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