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2013-05-23 12:21
求翻译：X-ray diffraction (XRD, Bede D1) and HRTEM (JEOLJEM2010) were used toevaluate the crystallization, microstructure, and interface properties. PL (HORIBA LabRAMHR800) measurements were conducted at room temperatureto analyze the optical properties of the ZnO films in a wavelength range of350–700 nm. The EL measurements w是什么意思？ 待解决
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X-ray diffraction (XRD, Bede D1) and HRTEM (JEOLJEM2010) were used toevaluate the crystallization, microstructure, and interface properties. PL (HORIBA LabRAMHR800) measurements were conducted at room temperatureto analyze the optical properties of the ZnO films in a wavelength range of350–700 nm. The EL measurements w
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
X-射线衍射（XRD ，贝德D1）和HRTEM （ JEOLJEM2010 ）被用来评估肿瘤是否侵犯结晶，显微组织，和界面性质。
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2013-05-23 12:23:18
X光衍射(XRD， Bede D1)和HRTEM (JEOLJEM2010)是使用的toevaluate结晶，微结构和接口物产。PL (HORIBA LabRAMHR800)测量被举办了在室temperatureto分析ZnO影片的光学性能在波长范围of350-700 nm的。EL测量acarried在室temperatureto估计XRD范围ZnO影片在淦基体放置heterostructural LEDs.Figure1shows的表现。
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2013-05-23 12:24:58
X-射线衍射 (XRD， Bede D1) 和HRTEM (JEOLJEM2010) 是使用的toevaluate结晶，微结构和接口物产。 PL (HORIBA LabRAMHR800) 测量在波长范围of350-700 nm被举办了在室temperatureto分析ZnO影片的光学性能。 EL测量是acarried在室temperatureto估计XRD范围ZnO影片在GaN基体放置heterostructural LEDs.Figure1shows的表现。 峰顶与thestandard绕射图所有配比。 结果显露ZnO影片的成长方向是被控制的byh70 74i.由于极小的表面热力势 (0
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2013-05-23 12:26:38
X 射线衍射 （XRD） 比德 D1 和 HRTEM （JEOLJEM2010） 被用于的评估的结晶、 微观结构与界面性能。PL (堀场 LabRAMHR800） 测量了在房间 temperatureto 分析中波长范围 of350 — — 700 毫微米 ZnO 薄膜的光学性质。EL 测量了 acarried 出在房间 temperatureto 评估表现的 heterostructural LEDs.Figure1shows 的氮化镓衬底上沉积 ZnO 薄膜的 x 射线衍射光谱。所有的山峰与标准衍射模式相匹配。结果表明 ZnO 薄膜的生长方向是占主导地位的 byh70 74i。由于的 （0
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2013-05-23 12:28:18
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