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2013-05-23 12:21
求翻译：Characterizing defects in thin film bonded to substrate or at periphery of this layer comprises use of light for which substrate is transparent and defect-free layer is opaque是什么意思？ 待解决
 悬赏分：1
- 离问题结束还有
Characterizing defects in thin film bonded to substrate or at periphery of this layer comprises use of light for which substrate is transparent and defect-free layer is opaque
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
表征薄膜粘结到基片或在此层的边缘缺陷包括利用光线为其基板是透明的，无缺陷层是不透明
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2013-05-23 12:23:18
描绘在与基体被结合的薄膜背叛或在这层周围包括基体是透明，并且无瑕疵的层数是不透明的用途光
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2013-05-23 12:24:58
描绘在薄膜保税投奔对基体或在这层周围包括基体是透明，并且无瑕疵的层数是不透明的用途光
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2013-05-23 12:26:38
表征薄膜粘合衬底或在周围的这一层中的缺陷包括使用灯光的基体是透明和无缺陷的图层是不透明的
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2013-05-23 12:28:18
缺陷特征在薄膜粘结到基体或在周边的这层由轻使用的基材是透明和无缺陷层是不透明
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