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2013-05-23 12:21
求翻译：Substrate's surface defect detecting method for e.g. electronic field, involves classifying substrate with defects and setting side of substrate, when maximal density of defects is higher or lower than threshold value respectively是什么意思？ 待解决
 悬赏分：1
- 离问题结束还有
Substrate's surface defect detecting method for e.g. electronic field, involves classifying substrate with defects and setting side of substrate, when maximal density of defects is higher or lower than threshold value respectively
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
基材的表面缺陷，例如用于检测方法电子领域，涉及到与缺陷分类基底和设置基板的一侧，当缺陷的最大密度比阈值更高或更低的分别
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2013-05-23 12:23:18
当最大的密度瑕疵高于或低于阈值分别为时，查出电子领域的即基体的表面损坏方法，介入分类基体以瑕疵和设置基体的边
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2013-05-23 12:24:58
查出方法为即的基体的表面损坏。 当最大的密度瑕疵低于阈值分别为高或时，电子领域，介入分类基体以瑕疵和设置基体的边
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2013-05-23 12:26:38
基板的表面缺陷检测方法，例如电子字段中，涉及到分类缺陷与基板和时最大密度的缺陷是高于或低于门槛值分别设置的衬底，边
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2013-05-23 12:28:18
基材的表面缺陷检测方法,例如电子”字段中,涉及到承印物进行分类和设置方面缺陷的基材,当最大的缺陷密度较高或低于阈值分别
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