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2013-05-23 12:21
求翻译：Apparatus for measuring lifetime of charge carriers in semiconductor structure, has power source that applies bias voltage between electrode and semiconductor structure holder which is moved with respect to measuring probe是什么意思？ 待解决
 悬赏分：1
- 离问题结束还有
Apparatus for measuring lifetime of charge carriers in semiconductor structure, has power source that applies bias voltage between electrode and semiconductor structure holder which is moved with respect to measuring probe
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
装置用于测量载流子寿命的半导体结构，具有适用偏压电极和移动相对于测量探针半导体结构支架之间的动力源
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2013-05-23 12:23:18
测量的终身的用具在半导体结构的载流子，有申请在电极和半导体结构持有人之间的偏压移动关于测量的探针的电源
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2013-05-23 12:24:58
用具为电荷载流子测量的终身在半导体结构，有申请偏压在电极和半导体结构持有人之间移动关于测量的探针的电源
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2013-05-23 12:26:38
测量半导体结构中载流子的寿命仪已适用偏置电压电极和半导体结构持有者被移动对测量探头之间的动力源
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2013-05-23 12:28:18
装置,用于测量电荷载体的寿命在半导体结构,适用于电源之间的电压偏置电极和半导体结构持有人是移动的测量探针
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